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関連情報
■LCD製品の信頼性試験
豊富な試験メニュー
試験前後の目視検査
によりお客様の負担を軽減
■LCD製品の不具合解析
故障モード、関連領域、分析・解析対象、主な手法を独自で関連付け
迅速・的確な解析を実現します
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【その他の掲載内容】
■LCP分子構造解説（一例）
■アイテス保有のGC-MS装置
■低分子液晶
■低分子液晶構造解説（一例）
■GC-MS分析による低分子液晶（for LCD）のTICデータ、および検出物質
■液晶構造機能解説
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■アイテス保有のGC-MS装置
■低分子液晶
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【解析内容（抜粋）】
<光学観察>
■分類
・パネルLCM/Cell
・Cell解体後の光学観察
■評価項目
・COG接合/FOG接合
・SEG-LCD_PIN接合
・引き出し配線/周辺回路
・セルシール
・表示部
・TFT/CF構造
■分析手法
・OM観察
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<光学観察>
■分類
・パネルLCM/Cell
・Cell解体後の光学観察
■評価項目
・COG接合/FOG接合
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・表示部
・TFT/CF構造
■分析手法
・OM観察
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【対象パネル】
■セグメント液晶
■パッシブ液晶
■アクティブTFT液晶(車載,モバイル,TV,etc)
【ご用意いただくもの】
■不良パネル
■点灯冶具(パネル表示不良写真でもOK)
■Refパネル(ご提供可能であれば)
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■セグメント液晶
■パッシブ液晶
■アクティブTFT液晶(車載,モバイル,TV,etc)
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【その他特長】
＜DCバイアスストレス試験＞
■Gate、Drainに任意のDCバイアスを印加し、TFTにストレスを与えたときの
Vthシフトを測定し、信頼性確認を行う
■加速試験として、加温状態でも測定できる
■複数のパネルメーカにて測定を行い、Vthシフト量を比較することで、優位判定も可能
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＜DCバイアスストレス試験＞
■Gate、Drainに任意のDCバイアスを印加し、TFTにストレスを与えたときの
Vthシフトを測定し、信頼性確認を行う
■加速試験として、加温状態でも測定できる
■複数のパネルメーカにて測定を行い、Vthシフト量を比較することで、優位判定も可能
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【使用装置】
■FT-IR装置
■XPS（ESCA）装置
■GC-MS装置
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■XPS（ESCA）装置
■GC-MS装置
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【その他の化学分析例(一部)】
＜液晶＞
■GCMS：液晶成分分析
■ICP-AES：液晶中の金属元素分析
■結果
・シアノ基を有する液晶成分が使用されており、また液晶中から金属元素が検出された
・シアノ基の分極は金属と親和し液晶駆動に影響する場合がある
＜偏光板＞
■HS-GCMS︓アウトガス分析(劣化解析)
■結果
・恒温恒湿試験を行ったサンプルでは偏光板の劣化による酢酸セルロースの加水分解が確認された
・偏光板の加水分解はパネル表示不良の原因の一つとなる
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＜液晶＞
■GCMS：液晶成分分析
■ICP-AES：液晶中の金属元素分析
■結果
・シアノ基を有する液晶成分が使用されており、また液晶中から金属元素が検出された
・シアノ基の分極は金属と親和し液晶駆動に影響する場合がある
＜偏光板＞
■HS-GCMS︓アウトガス分析(劣化解析)
■結果
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・偏光板の加水分解はパネル表示不良の原因の一つとなる
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【このようなパネルの不良発生に】
■セグメントパネル
・SEGの表示欠け
・SEGの部分表示欠け
・全体が薄表示
■TFT液晶パネル
・輝線/滅線
・輝点/滅点
・ムラの発生
・異常加熱
・外観破損
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■セグメントパネル
・SEGの表示欠け
・SEGの部分表示欠け
・全体が薄表示
■TFT液晶パネル
・輝線/滅線
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・外観破損
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【セル解体観察の観察内容】
■シール材とPI膜の状態確認
■画素部のTFTに形状異常や腐食、異物はないか
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■画素部のTFTに形状異常や腐食、異物はないか
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株式会社アイテス
