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■LEDの信頼性試験
・光学特性評価 -紫外光域/可視光域 対応-
LED製品の光学特性値は、製品の検査及び品質状態の把握に利用可能
・電気特性評価
LEDの電気的な不良或いは劣化の状態を把握
・高温動作試験・高温高湿動作試験
In-Situ常時測定装置の使用により、試験動作中の電圧モニターを実施可能
・信頼性試験
LEDの使用環境を考慮した信頼性試験評価の実施
・点灯試験
単体のLEDデバイスから1200mm蛍光灯管サイズまで試験可能
・非破壊検査
X線によるLED内部構造の透過観察を実施
・ESD試験
HBM(人体モデル)とMM(機械モデル)の2種類
■LEDの分析・解析
・LED不良モードの切り分け
不具合部位を特定、最適な解析手法をご提案
・順方向、逆方向バイアスに対応した発光解析
様々な手法にて、LEDのリーク箇所を検出
・LED素子の裏面研磨と裏面発光解析
リーク箇所の断面観察より、リーク発生原因を解析
・橙色LEDの構造解析例
断面SEM観察より、構造を解析
・光学特性評価 -紫外光域/可視光域 対応-
LED製品の光学特性値は、製品の検査及び品質状態の把握に利用可能
・電気特性評価
LEDの電気的な不良或いは劣化の状態を把握
・高温動作試験・高温高湿動作試験
In-Situ常時測定装置の使用により、試験動作中の電圧モニターを実施可能
・信頼性試験
LEDの使用環境を考慮した信頼性試験評価の実施
・点灯試験
単体のLEDデバイスから1200mm蛍光灯管サイズまで試験可能
・非破壊検査
X線によるLED内部構造の透過観察を実施
・ESD試験
HBM(人体モデル)とMM(機械モデル)の2種類
■LEDの分析・解析
・LED不良モードの切り分け
不具合部位を特定、最適な解析手法をご提案
・順方向、逆方向バイアスに対応した発光解析
様々な手法にて、LEDのリーク箇所を検出
・LED素子の裏面研磨と裏面発光解析
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断面SEM観察より、構造を解析
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■基板接合部機械研磨
+化学エッチング
+イオンミリング
光学顕微鏡、SEMによる観察
■FIBによる断面作成
SEMによる観察
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+イオンミリング
光学顕微鏡、SEMによる観察
■FIBによる断面作成
SEMによる観察
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株式会社アイテス