製品ニュース

FIB-SEMのSlice＆View機能を用いた、故障箇所の三次元再構築について
ご紹介いたします。

構造物の連続SEM画像を取得し、得られた像を三次元構築ソフト(Avizo)で、
SEM画像間のパターンの位置ズレを補正し立体的に可視化。

故障箇所に対して断面出しをする位置特定技術と…

薬液処理による⾦属組織観察についてご紹介します。

⾦属試料の薬品処理を⾏う事で⾦属組織を明瞭に観察する事が可能。
組織を観察する事で試料の状態や熱、応⼒などの印加履歴などが確認出来る
事があり、組織形状から製品の出来具合や不具合調査の⼿がかりが得られます。

掲載カタログにて、アルミニ…

株式会社アイテスでは、今年度新たに「顕微FT-IR」を追加導入しました。

FT-IRと光学顕微鏡を組み合わせた「顕微FT-IR」ではアパーチャ(視野絞り)
によって通常のFT-IRでは測定困難な数十μm程度の微小物質も
測定することが出来ます。

顕微FT-IRには大きく分けて「透過法…

半導体の構造観察や不良解析における断面作製方法には、CPやFIB、
機械研磨が挙げられますがそれぞれ一長一短あり、どの方法で作製するのか
検討が必要です。

近年ではCPやFIBが一般的になってきており技術を要する機械研磨は
減りつつあるように感じます。しかし、まだまだ捨てたものではござい…

当社で行った「冷熱衝撃試験のひずみ測定」についてご紹介いたします。

冷熱衝撃試験装置にひずみゲージを貼り付けたサンプルをセットし、
ひずみゲージの配線は槽外のデータロガーに接続して試験中のひずみデータを
リアルタイムで記録。

二種類の銅張積層板について、冷熱衝撃試験中のひずみ挙動を観…

当社で行った基板実装部品の断面観察例をご紹介いたします。

市販のパソコン基板を用いて、実装部品のはんだ接合部や部品内部の構造を
金属顕微鏡で観察。金属顕微鏡の観察モードには、明視野観察、暗明視野観察、
偏光観察等があります。その他、透過光による観察等もあり、試料に合わせて
観察モードを選…

当社で行ったレーザー回析による正極活物質の粒径測定の事例を
ご紹介いたします。

気中または液中で、粒子にレーザー光を照射し、粒子により散乱される
光の強度の角度依存性を測定。散乱光強度の角度依存性を測定し、
そのデータから粒子径分布(粒度分布)が算出されます。

市販の試薬を試料とし…

当社で行っている、ポアソン比測定についてご紹介します。

ポアソン比とは、物体に荷重を掛けた際に生じる縦方向と横方向の
ひずみの比であり、材料の強度計算等において必要になるものです。

引張試験によるポアソン比測定、強度測定に対応いたします。
お気軽にご相談ください。

当社で取り扱う『化学分析　おまかせサービス』をご紹介いたします。

製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、
無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適
なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。

分析装置…

有機基板と呼ばれる板に実装された各種部品の断⾯観察例をご紹介します。

身の回りにある様々な電子機器の内部には、電子部品が搭載された
基板があります。

実装基板を観察すると、多数の部品が所狭しとはんだ接合されて
いるのが分かります。これらの部品が正しく接合されていないと
正常に動作し…

COG実装の導電粒⼦形状観察についてご紹介します。

ICと液晶パネルはACF(異⽅性導電フィルム)を⽤いたCOG⽅式により実装。
核に樹脂ボールを使⽤し、その表面に導電のための⾦属層(ニッケルや⾦など)
が成膜されており、接続時に粒⼦が適度に変形し、ICとパネルを電気的に接続。

粒⼦…

電源が入らなくなった家電のスイッチ部にて故障が推測されたことから、
解析事例を作業フローと共に紹介します。

最初に外観の観察にて、膨れや⻲裂、変⾊などの形状変化がないか確認。
電気的な確認では不具合が再現されるか確認したりオープンなのか
ショートなのか等を確認します。

X線での内部…

当社では、UV硬化性樹脂のUV照射前後のスペクトルを
解析しております。

UV硬化樹脂(アクリル系)に紫外線を照射し、照射前後の
ラマンスペクトルを取得。

ラマンスペクトルの解析により硬化反応がある程度推定可能です。
より詳しい硬化モード硬化解析のためにはGCMS等の分析が必要です…

『引張試験』は、材料を一定速度で引張った時の荷重及び変位量(伸び)を
測定し、材料の物理特性や機械特性を求める試験です。

試験片を恒温槽内で引張ることで、これらの特性の温度依存性を求め、
把握することが可能。

当社では温度環境下における材料物性試験の対応が可能です。
測定したい材料…

『ダイナミックSIMS』は、試料中に含まれる微量の全元素(H〜U)を
ppmからppbの高感度で検出することができる二次イオン質量分析法です。

定性分析及び深さ方向分析ができ、加えて標準試料による高精度な定量分析が
可能。(当社の協力会社での分析実施)

最小ビーム径は約30um、材質…