最終更新日:
2019-11-07 14:19:43.0
デバイス帯電モデル（Charged Device Model）のESDに対する耐性を評価する試験サービスを提供いたします。
■ 各規格波形 JEDEC、JEITA（EIAJ)、AEC に対し
ユニット交換で対応します。
■ 直接チャージ法（Direct CDM）、電界誘導法（Field Induced CDM）
の両方に対応します。
■印加ピンの接触状態の確認機能により確実に印加します。
■ダイオード特性判定法による破壊判定対応も可能です。（要相談）
基本情報
■印加電圧0Vから±4000Vまで、5Vステップ
■最大 1024ピン まで対応します。
■プローブ移動精度：0.1mm
■印加ユニット：JEDEC（JESD22-C101F）、JEITA、EIAJ、AEC
■チャージ法
FI-CDM：電界誘導法（JEDEC・AEC）
D-CDM：直接チャージ法（JEITA・EIAJ・AEC）
☆車載向け電子部品規格：AEC-Q100-011の試験サービスを開始
AEC規格のField Induced CDM（FI-CDM）試験対応が可能です。
AEC規格のDirect CDM(D-CDM)試験対応が可能です。
| 価格情報 | 試験条件により御見積致します。 |
|---|---|
| 納期 |
お問い合わせください
※ 試験条件・数量により変動いたします。 |
| 用途／実績例 | JEDEC JEITA EIAJ AEC 各種規格試験 |
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