信頼性保証サービスのご紹介製品カタログ | カタログ

関連情報

■電流パルス印加法（JEDEC・JEITA・AEC）
■電源過電圧法（JEDEC・JEITA・AEC）
■電圧パルス印加法（AEC）
■ESDパルス印加法（参考試験）
■ラッチアップ判定法（JEDEC方式・電流定義方式）
■試験前後の保護ダイオード特性測定にも対応します。
■ソケット、専用基板等の手配・試験ボード作製にも対応します。

＊VCC電源搭載数：4台（100V/0.5A：1台、50V/1A：3台）
　　　　　　　　　多電源デバイスの対応が可能
＊電源過電圧法の最大電圧：150V（VCC電圧＋VTパルス電圧⇒最大150V）

海外製部品・製品評価サービス

■信頼性試験
・温度サイクル試験
・冷熱衝撃試験
・高温高湿バイアス試験
・高温保存試験
・高度加速寿命試験
・プリコンディション
・ホットオイル試験
・In-situ常時測定
・イオンマイグレーション試験
・エレクトロマイグレーション試験

■評価試験
・接合強度試験
　プル/シェア試験
・機械的強度試験
　振動・衝撃試験、落下試験、圧縮強度・ズレ強度
・ESD/Latch Up/CDM試験
・はんだ濡れ性試験
・電気特性計測
・塩水噴霧試験
・X線透過観察
・SAT（超音波顕微鏡）観察

ESD（CDM）試験受託サービス

■印加電圧0Vから±4000Vまで、5Vステップ
■最大 1024ピンまで対応します。
■プローブ移動精度：0.1mm
■印加ユニット：JEDEC（JESD22-C101F）、JEITA、EIAJ、AEC
■チャージ法
　FI-CDM：電界誘導法（JEDEC・AEC）
　D-CDM：直接チャージ法（JEITA・EIAJ・AEC）

☆車載向け電子部品規格：AEC-Q100-011の試験サービスを開始
　AEC規格のField Induced CDM（FI-CDM）試験対応が可能です。
　AEC規格のDirect CDM(D-CDM)試験対応が可能です。

ESD（HBM・MM）試験受託サービス

■HBM試験（C=100pF、R=1.5kΩ）
　±5～±4500V（Step：5V）
■MM試験（C=200pF、R=0Ω）
　±5～±2000V（Step：5V）
■単一印加、ステップアップ印加、ピンコンビネーション印加等
　多様な印加条件に対応します。
■破壊判定方法は、保護ダイオード特性評価、IiL/IiH特性評価、
　VoL/VoH特性評価、電源ピンの特性評価の4種類に対応します。
■ソケット、専用基板等の手配・試験ボード作製にも対応します。

信頼性保証サービスのご紹介

■高度加速寿命試験
　内寸（最大）　Φ545×L550mm
　温湿度範囲　+105～162.2℃/75～100%RH

■冷熱衝撃試験
　内寸（最大）　W970×H460×D670mm
　温度範囲　-65℃～0℃/+60℃～200℃

■恒温恒湿試験
　内寸（最大）　W1000×H1000×D720mm
　温湿度範囲　-70℃～+150℃/20～98%RH

■液槽冷熱衝撃試験
　試料カゴ（最大）　W320×H240×D320mm
　耐荷重（最大）　10kg
　温度範囲　-65℃～0℃/+60℃～150℃

ESD/ラッチアップ試験受託サービス

半導体デバイスやそれを含む電子部品の信頼性として重要な、ESD破壊およびラッチアップによる破壊に対する耐性を評価する試験サービスを提供します。

■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。
■ JEDEC、EIAJ、ESDAなどの規格に準拠した試験を提供します。
■ お客様のご要望や目的にあった試験をご提案、実施します。
■ 万一耐性に問題があった場合は、故障解析/原因究明から問題解決までのお手伝いをします。

In-Situ常時測定信頼性評価試験サービス

In-Situ常時測定信頼性評価試験では、特性を測定しながら、ストレスを印加し信頼性評価試験を行います。

●正確な故障時間の把握が可能
　決まった時間にストレス環境より取り出して測定するリードアウト方式では、リードアウトのタイミングでしか故障の把握ができず、正確な故障発生時間を知ることはできません。
　In-Situ測定では、正確な故障時間の把握ができます。
●回復性故障の検出が可能
　回復性故障は市場において重大な問題を引き起こすことがあります。
　リードアウト方式ではこれら回復性故障の検出がほとんどの場合不可能ですが、In-Situ測定では回復性故障の検出が可能であり、正確な判断/判定ができます。
●試料へのストレス印加状態の監視が可能
　ストレス印加状況および測定データをリアルタイムで確認できます。

品質技術トータルソリューション

電子部品の企画・設計・開発段階から、量産、出荷後に至るまで、あらゆるフェーズで発生する品質問題に、長く培われた技術と経験をもとにスピーディーで的確なソリューションを提供します。

LEDのトータルサポートサービス

■LEDの信頼性試験
　・光学特性評価　-紫外光域/可視光域対応-
　　LED製品の光学特性値は、製品の検査及び品質状態の把握に利用可能
　・電気特性評価
　　LEDの電気的な不良或いは劣化の状態を把握
　・高温動作試験・高温高湿動作試験
　　In-Situ常時測定装置の使用により、試験動作中の電圧モニターを実施可能
　・信頼性試験
　　LEDの使用環境を考慮した信頼性試験評価の実施
　・点灯試験
　　単体のLEDデバイスから1200mm蛍光灯管サイズまで試験可能
　・非破壊検査
　　X線によるLED内部構造の透過観察を実施
　・ESD試験
　　HBM(人体モデル）とMM（機械モデル）の2種類
■LEDの分析・解析
　・LED不良モードの切り分け
　　不具合部位を特定、最適な解析手法をご提案
　・順方向、逆方向バイアスに対応した発光解析
　　様々な手法にて、LEDのリーク箇所を検出
　・LED素子の裏面研磨と裏面発光解析
　　リーク箇所の断面観察より、リーク発生原因を解析
　・橙色LEDの構造解析例
　　断面SEM観察より、構造を解析

液晶ディスプレイの信頼性トータル・ソリューション

■LCD製品の信頼性試験
　豊富な試験メニュー
　試験前後の目視検査
　によりお客様の負担を軽減

■LCD製品の不具合解析
　故障モード、関連領域、分析・解析対象、主な手法を独自で関連付け
　迅速・的確な解析を実現します

ウィスカ評価

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

超微⼩硬度計による材料評価

【試験から得られる結果】
■設定荷重まで段階的に荷重を増加させて測定するため、表層からの連続的な
　硬さや押し込み深さ、材料への影響情報などのプロファイルが得られる
■圧⼦を材料中に押し込む侵⼊深さと、除荷後回復する荷重／侵⼊深さ曲線
　より硬さ値を求めるため、硬度以外にヤング率・塑性硬さ・塑性変形量・弾性割合・
　クリープなどの多くの物性を解析可能
■測定n数を増やして硬さなどのばらつきを標準偏差によって表すことができる

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

パワーデバイスのHAST試験

【仕様】
　試験電圧：最大DC1000Vまで印加可能 (正極コモン･保護抵抗110kΩ)
　試験数量：最大30個 (正極側)
　対応モジュール：TO-247､TO-220 等 (その他のパッケージは要相談：ソケット調達可)
　測定内容：漏れ電流のモニタリング
　試験装置：温度制御範囲 105.0℃～142.9℃ 湿度制御範囲 75%RH～100%RH
　　　　　　圧力範囲 0.020～0.196MPa（ゲージ圧）

【試験条件例】
　JESD22-A110E　､　 JEITA ED-4701-100A(試験方法302A)　等

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

高温ラッチアップ試験

【仕様】
■温度範囲：50℃～150℃
■加熱方式：温風による加熱
　（フィクスチャボード上のソケット･デバイス等を熱風発生器で加温）
■制御方法：デバイス付近にセンサーを設置し温度調節器で制御（温度センサ：Pt100）
　事前確認としてデバイス表面温度を測定し、ヒーターの出力値を調整
■試験装置： ESD／ラッチアップテスタ M7000A-512EL
■装置仕様： VCC電源搭載数4台（VCC1：100V／0.5A、VCC2～VCC4：50V／1A）
　電源過電圧印加法のVCC電圧＋VTパルス電圧は、最大150Vまで設定可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【資料】超微小硬度計による負荷除荷モード＆カラーフィルター測定例

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信頼性試験から観察までトータルコーディネート

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ランプ加熱試験（赤外線照射試験）

【温度制御範囲】
■雰囲気：20℃～100℃
■表面：30℃～125℃　※材質、形状によって変化

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【資料】色差計による樹脂の表色系、および透過率評価

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メルトフローレイト（MFR）測定評価サービス

【装置仕様】
■温度範囲：100-350℃（精度±0.2℃）

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【資料】材料の信頼性試験から化学分析までご対応します

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【資料】XPS（ESCA）による変色変質素材の表面分析

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真贋調査（比較観察）

【調査方法】
■外観観察
■X線観察
■電気的測定
■開封観察
■信頼性試験
■材料調査

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ESD(CDM)試験受託サービス

【装置仕様】
■印加(充電)電圧：0～±4000V
■ステップ電圧：5V
■印加回数：1～99回
■ピン数：最大1024ピン
■印加ユニット：JEDEC、JEITA、EIAJ、AEC
■チャージ方法
　・D-CDM(直接チャージ法)：JEITA、EIAJ、AEC
　・FI-CDM(電界誘導法)：JEDEC、AEC

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ESD(HBM・MM)試験受託サービス

【装置概要/評価内容】
■HBM試験(C=100pF、R=1.5kΩ)±5V～±4000V(Step：5V)
■MM試験(C=200pF、R=0Ω)±5V～±2000V(Step：5V)
■単一/ステップアップ印加、ピンコンビネーション印加等の多様な印加条件に対応
■破壊判定方法：保護ダイオード特性評価、IiL/IiH特性評価、VoL/VoH特性評価、
　電源ピンの特性評価の4種類に対応
■ソケットや専用の変換基板等の手配から試験用DUTボード作製から試験まで対応

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

液槽冷熱衝撃試験 LED通電

【試験例】
＜試験条件＞
■-40℃(5min)⇔+110℃(5min)
■LED4種×5個直列連続通電(定電流制御)

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

CDM試験低湿度環境対応

【仕様】
■湿度制御：ドライエア(露点温度-20℃)により湿度30％未満を実現
■確認方法
　・サンプル設置近傍の2ヶ所に温湿度センサーを設置して温度・湿度を常時モニター
　・相対湿度が30％未満となった時点で試験開始
■試験装置：CDM SIMULATOR HED-C5002

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ハイパワー恒温恒湿槽での環境試験

【試験例】
■温度サイクル試験
　・実環境に近いストレスを与えることが可能
　・高い冷却能力を持っているため、発熱の多い試料でも温度の維持ができる
■温湿度サイクル試験（結露試験）
　・温度サイクルに湿度も合わせて制御する、温湿度サイクル試験に対応可能
　・試験内容に沿ってプログラムの設定を行う

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超音波顕微鏡『SAM』

【その他の仕様】
■最大測定範囲：314mm×314mm　最小ピッチ：0.5μm
■画像取得数(1スキャン)：100枚(ゲート)

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冷熱衝撃試験

【冷熱衝撃試験規格の例】
■JESD 22-A104 TEMPERATURE CYCLING
■IEC 60749-25 Temperature cycle
■EIAJ ED-4701/100 method 105 Temperature cycle
■MIL STD-883 1010.8 TEMPERATURE CYCLING
■その他、様々な試験規格で規定

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

液槽冷熱衝撃試験

【装置の仕様】
■温度範囲
　・低温側温度：-40℃～0℃
　・高温側温度：60℃～180℃
　・使用液体：Galden D03
■試料カゴサイズ
　・内法：W190mm×H240mm×D360mm
　・耐荷重：10Kg

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促進耐候性試験＜キセノンウェザーメーター＞

【スーパーキセノンウェザーメーターSX75 主な仕様（一部）】
■放射照度と波長範囲（装置により測定波長範囲が異なる）
・60～180W/m2（300～400nm）
・0.55～1.65W/m2（340nm）
・1.10～3.30W/m2（420nm）
・550～1650W/m2（290～800nm）
・450～1350W/m2（300～700nm）　
■試料枠回転数：1、2、12回転/分
■試験項目：照射、照射＋降雨、暗黒、暗黒＋裏面降雨、暗黒＋両面降雨

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液晶ディスプレイの輝度・色度ムラ評価

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加圧繰り返し試験

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積層セラミックコンデンサ連続通電試験

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