株式会社アイテス

TOF-SIMSによる表面分析

最終更新日: 2019-11-07 14:50:23.0
TOF-SIMSは軽元素、無機物から分子量の大きい有機物まで分析可能です。

■TOF-SIMS 3つの分析モード
・高分解能質量スペクトル
・深さ方向分析
・表面の面分析

基本情報

・TOF-SIMSはパルス状の一次イオンを照射し
 励起放出されたイオンの飛行時間により質量分析を行います。
・質量の大きなイオンほど、検出器に到達する時間が長くなり
 質量の分離が出来ます。

価格情報 -
納期 お問い合わせください
用途/実績例 ・緑顔料中のフタロシアニングリーンの分子構造
・薄膜a-Si太陽電池の深さ方向分析
・Siウエハ表面汚染の面分析

お問い合わせ

下記のフォームにお問い合わせ内容をご記入ください。
※お問い合わせには会員登録が必要です。

至急度  必須
ご要望  必須
目的  必須
添付資料
お問い合わせ内容 
【ご利用上の注意】
お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。
はじめてイプロスをご利用の方 はじめてイプロスをご利用の方 すでに会員の方はこちら
イプロス会員(無料)になると、情報掲載の企業に直接お問い合わせすることができます。
メールアドレス

※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。

株式会社アイテス

表面・化学分析の製品・サービス一覧(330件)を見る