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液晶ディスプレイの信頼性トータル・ソリューション

最終更新日: 2023-01-12 17:19:24.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

液晶ディスプレイ製品の抱える問題を、アイテスは信頼性試験から故障解析、材料分析までトータルで御支援します。
■LCD製品の信頼性試験
　・温湿度バイアス試験
　・冷熱衝撃試験
　・高温/低温保存試験
　・高度加速寿命試験
　・テストコンサルディング
　・目視検査（外観・点灯画質検査）
■LCD製品の不具合解析
　・TFT特性測定
　・TFT構造、TFT異物解析
　・ドライバーIC接続部観察
　・配線腐食分析
　・表面汚染分析
　・微小異物分析
　・液晶汚染分析
　・配向膜汚染分析
　・LED故障解析
　・PCB故障解析
　・偏光板、シート類異物分析
　・シール、封止材劣化分析

関連情報

【成分分析】GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計
【成分分析】GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計 製品画像
【分析対象物の例】
■オイル
・各種成分の定性
■プラスチックやフィルム、ゴム製品、基板等
・添加剤や残存溶剤等の定性分析(ヘッドスペース、又はパイロライザー)
・分解温度での発生ガス分析から、ポリマー種を推定(パイロライザー)
■液晶
・サンプル間での比較により、微量不純物を定性

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
品質技術トータルソリューション
品質技術トータルソリューション 製品画像
電子部品の企画・設計・開発段階から、量産、出荷後に至るまで、あらゆるフェーズで発生する品質問題に、長く培われた技術と経験をもとにスピーディーで的確なソリューションを提供します。
In-Situ常時測定 信頼性評価試験サービス
In-Situ常時測定 信頼性評価試験サービス 製品画像
In-Situ常時測定 信頼性評価試験では、特性を測定しながら、ストレスを印加し信頼性評価試験を行います。

●正確な故障時間の把握が可能
　決まった時間にストレス環境より取り出して測定するリードアウト方式では、リードアウトのタイミングでしか故障の把握ができず、正確な故障発生時間を知ることはできません。
　In-Situ測定では、正確な故障時間の把握ができます。
●回復性故障の検出が可能
　回復性故障は市場において重大な問題を引き起こすことがあります。
　リードアウト方式ではこれら回復性故障の検出がほとんどの場合不可能ですが、In-Situ測定では回復性故障の検出が可能であり、正確な判断/判定ができます。
●試料へのストレス印加状態の監視が可能
　ストレス印加状況および測定データをリアルタイムで確認できます。
TEMによる電子部品・材料の解析
TEMによる電子部品・材料の解析 製品画像
■エミッション発光にて特定した故障部位は
　FIBにより薄片化しながら観察します。

■電子の透過力の大きい加速電圧400kVのTEMにて
　故障部位を試料厚内に閉じ込めた状態での透過観察とFIB加工を繰り返し
　最適な像を得ることができます。

■TEM像倍率をあらかじめ校正しておき
　2%以下の誤差で測長することもできます。
信頼性保証サービスのご紹介
信頼性保証サービスのご紹介 製品画像
■高度加速寿命試験
　内寸（最大）　Φ545×L550mm
　温湿度範囲　+105～162.2℃/75～100%RH

■冷熱衝撃試験
　内寸（最大）　W970×H460×D670mm
　温度範囲　-65℃～0℃/+60℃～200℃

■恒温恒湿試験
　内寸（最大）　W1000×H1000×D720mm
　温湿度範囲　-70℃～+150℃/20～98%RH

■液槽冷熱衝撃試験
　試料カゴ（最大）　W320×H240×D320mm
　耐荷重（最大）　10kg
　温度範囲　-65℃～0℃/+60℃～150℃
液晶ディスプレイの信頼性トータル・ソリューション
液晶ディスプレイの信頼性トータル・ソリューション 製品画像
■LCD製品の信頼性試験
　豊富な試験メニュー
　試験前後の目視検査
　によりお客様の負担を軽減

■LCD製品の不具合解析
　故障モード、関連領域、分析・解析対象、主な手法を独自で関連付け
　迅速・的確な解析を実現します
【資料】液晶材料とその分析技術
【資料】液晶材料とその分析技術 製品画像
【その他の掲載内容】
■LCP分子構造解説（一例）
■アイテス保有のGC-MS装置
■低分子液晶
■低分子液晶構造解説（一例）
■GC-MS分析による低分子液晶（for LCD）のTICデータ、および検出物質
■液晶構造機能解説

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
クロスビームFIBによる断面観察
クロスビームFIBによる断面観察 製品画像
半導体デバイス、MEMS、TFTトランジスタなど
ナノスケールで製造されるエレクトロニクス製品の構造解析を
クロスビームFIBによる断面観察で行います。

１）FIB加工をリアルタイムで観察できるため目的の箇所を確実に捉えます。
２）2つの二次電子検出器（In-Lens/チャンバーSE）により試料から様々な情報が得られます。
３）加工用FIBと観察用低加速SEMを1つのチャンバーに集約し大気に曝すことなく観察。
４）拡散層：PN界面の可視化が可能。N+/N-及びP+/P-の濃度差は検出不可。
液晶パネルの不良解析
液晶パネルの不良解析 製品画像
【対象パネル】
■セグメント液晶
■パッシブ液晶
■アクティブTFT液晶(車載,モバイル,TV,etc)

【ご用意いただくもの】
■不良パネル
■点灯冶具(パネル表示不良写真でもOK)
■Refパネル(ご提供可能であれば)

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
液晶パネルのTFT特性評価
液晶パネルのTFT特性評価 製品画像
【その他特長】
＜DCバイアスストレス試験＞
■Gate、Drainに任意のDCバイアスを印加し、TFTにストレスを与えたときの
　Vthシフトを測定し、信頼性確認を行う
■加速試験として、加温状態でも測定できる
■複数のパネルメーカにて測定を行い、Vthシフト量を比較することで、優位判定も可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
液晶材料分析
液晶材料分析 製品画像
【使用装置】
■FT-IR装置
■XPS（ESCA）装置
■GC-MS装置

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
液晶ディスプレイ材料分析
液晶ディスプレイ材料分析 製品画像
【その他の化学分析例(一部)】
＜液晶＞
■GCMS：液晶成分分析
■ICP-AES：液晶中の金属元素分析
■結果
・シアノ基を有する液晶成分が使用されており、また液晶中から金属元素が検出された
・シアノ基の分極は金属と親和し液晶駆動に影響する場合がある
＜偏光板＞
■HS-GCMS︓アウトガス分析(劣化解析)
■結果
・恒温恒湿試験を行ったサンプルでは偏光板の劣化による酢酸セルロースの加水分解が確認された
・偏光板の加水分解はパネル表示不良の原因の一つとなる

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
海外製ディスプレイの不良解析
海外製ディスプレイの不良解析 製品画像
【このようなパネルの不良発生に】
■セグメントパネル
　・SEGの表示欠け
　・SEGの部分表示欠け
　・全体が薄表示
■TFT液晶パネル
　・輝線/滅線
　・輝点/滅点
　・ムラの発生
　・異常加熱
　・外観破損

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
海外製 液晶ディスプレイの良品解析
海外製 液晶ディスプレイの良品解析 製品画像
【セル解体観察の観察内容】
■シール材とPI膜の状態確認
■画素部のTFTに形状異常や腐食、異物はないか

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
恒温恒湿試験中の槽内撮影
恒温恒湿試験中の槽内撮影 製品画像
【使用機器の構成】
■恒温恒湿槽
・温度範囲：-40℃～100℃(加湿時は最大85℃)
・エスペック製PL-4J/ワイドビューオプション付
■カメラ(USB接続)
■カメラ監視ソフト(PC)

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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