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関連情報
電子部品の企画・設計・開発段階から、量産、出荷後に至るまで、あらゆるフェーズで発生する品質問題に、長く培われた技術と経験をもとにスピーディーで的確なソリューションを提供します。
【その他特長】
<DCバイアスストレス試験>
■Gate、Drainに任意のDCバイアスを印加し、TFTにストレスを与えたときの
Vthシフトを測定し、信頼性確認を行う
■加速試験として、加温状態でも測定できる
■複数のパネルメーカにて測定を行い、Vthシフト量を比較することで、優位判定も可能
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<DCバイアスストレス試験>
■Gate、Drainに任意のDCバイアスを印加し、TFTにストレスを与えたときの
Vthシフトを測定し、信頼性確認を行う
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【関連サービス】
■熱、湿度負荷の信頼性試験
■試験前後の表面観察、表面粗度分析
■試験前後の表面/定性化学分析
■試験前後の分子量分析 など
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当社は半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える
様々なサービスを提供しております。
製品開発、不良・故障解析、信頼性評価などでお悩みの方はぜひご相談ください。
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【透明樹脂の測定例】
■測定サンプル
・PMMA:アクリル
・PC:ポリカーボネート
・PET:ポリエチレンテレフタレート
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【その他の概要】
■SEM観察・EDX分析
・SEMで観察するとレンズ基材の上にハードコート/多層膜が施されている様子が
観察された
・多層膜ではSiO膜とNb膜が交互に積層されている様子が伺える
・さらにクリアに観察・分析するのであれば、TEMがお勧め
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■SEM観察・EDX分析
・SEMで観察するとレンズ基材の上にハードコート/多層膜が施されている様子が
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【対象パネル】
■セグメント液晶
■パッシブ液晶
■アクティブTFT液晶(車載,モバイル,TV,etc)
【ご用意いただくもの】
■不良パネル
■点灯冶具(パネル表示不良写真でもOK)
■Refパネル(ご提供可能であれば)
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■パッシブ液晶
■アクティブTFT液晶(車載,モバイル,TV,etc)
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■不良パネル
■点灯冶具(パネル表示不良写真でもOK)
■Refパネル(ご提供可能であれば)
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【解析内容(抜粋)】
<光学観察>
■分類
・パネルLCM/Cell
・Cell解体後の光学観察
■評価項目
・COG接合/FOG接合
・SEG-LCD_PIN接合
・引き出し配線/周辺回路
・セルシール
・表示部
・TFT/CF構造
■分析手法
・OM観察
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<光学観察>
■分類
・パネルLCM/Cell
・Cell解体後の光学観察
■評価項目
・COG接合/FOG接合
・SEG-LCD_PIN接合
・引き出し配線/周辺回路
・セルシール
・表示部
・TFT/CF構造
■分析手法
・OM観察
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【発光解析/OBIRCH解析 特長】
■発光/OBIRCH解析によりリーク箇所、あるいは関係しているネットを特定
■Layout Viewerによるレイアウト確認が可能
■カスタマイズされた装置により、様々なサンプルの解析に対応できる
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【装置スペック】
■冷却機能付トリプルイオンミリング装置
・最大試料サイズ:50×50×10mm
・最大加工幅:4mm
・ピンポイント位置精度:10~20μm
・冷却機能:-150℃まで
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■冷却機能付トリプルイオンミリング装置
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【その他の掲載内容】
■LCP分子構造解説(一例)
■アイテス保有のGC-MS装置
■低分子液晶
■低分子液晶構造解説(一例)
■GC-MS分析による低分子液晶(for LCD)のTICデータ、および検出物質
■液晶構造機能解説
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■アイテス保有のGC-MS装置
■低分子液晶
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■液晶構造機能解説
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■LCD製品の信頼性試験
豊富な試験メニュー
試験前後の目視検査
によりお客様の負担を軽減
■LCD製品の不具合解析
故障モード、関連領域、分析・解析対象、主な手法を独自で関連付け
迅速・的確な解析を実現します
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試験前後の目視検査
によりお客様の負担を軽減
■LCD製品の不具合解析
故障モード、関連領域、分析・解析対象、主な手法を独自で関連付け
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【以下のような不具合に対応】
■電解コンデンサ不良
■インバータ不良
■IC故障
■バックライト切れ
■液晶表示不良・破損
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■インバータ不良
■IC故障
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【FIB-SEM複合装置概要】
■垂直方向にSEMカラム、斜め方向にFIBカラムを搭載
■FIB加工中の様子をSEMでリアルタイムに観察が可能
■加工位置精度の向上
■大気非暴露で観察、分析可能
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■FIB加工中の様子をSEMでリアルタイムに観察が可能
■加工位置精度の向上
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【その他概要】
<液晶パネルのICチップ>
■観察対象は液晶パネルにCOG実装方式で接続されたICチップ
■ICチップとガラス基板はACFで接着されており、ICチップは取り外せない構造
■ガラス基板越しにICチップ回路面の観察を試みたが、ガラス基板配線や導電粒子に阻まれ、
ICチップ回路面を確認することができなかった
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<液晶パネルのICチップ>
■観察対象は液晶パネルにCOG実装方式で接続されたICチップ
■ICチップとガラス基板はACFで接着されており、ICチップは取り外せない構造
■ガラス基板越しにICチップ回路面の観察を試みたが、ガラス基板配線や導電粒子に阻まれ、
ICチップ回路面を確認することができなかった
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【このようなパネルの不良発生に】
■セグメントパネル
・SEGの表示欠け
・SEGの部分表示欠け
・全体が薄表示
■TFT液晶パネル
・輝線/滅線
・輝点/滅点
・ムラの発生
・異常加熱
・外観破損
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■TFT液晶パネル
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【その他測定項目】
■コントラスト比
■三刺激値
■色温度
■演色性評価
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【セル解体観察の観察内容】
■シール材とPI膜の状態確認
■画素部のTFTに形状異常や腐食、異物はないか
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株式会社アイテス