電子部品
電子部品の紹介です。
【分析】新しい半導体開封技術（Agワイヤ・パワーデバイス）
事例あり。車載向けパワーデバイス開発の活発化に伴い、デバイスの故障解析および良品解析の需要が増えております。
最終更新日：
2022-11-24 10:42:29.0
有機材料、発光素子、薄膜･半導体の測定分析装置
非接触・非破壊・顕微で測定時間1秒の顕微反射分光膜厚計や、分光蛍光光度計などを導入いたしました。
最終更新日：
2022-11-24 10:59:24.0
高性能解析装置によるソリューション・サービスのご案内
X線CTやプラズマFIB、EBSD等でサンプルを高精度に観察するソリューション・サービスをご提供！
最終更新日：
2022-11-24 11:16:52.0
高電圧，高温下で発生するエレクトロケミカルマイグレーション
高電圧下で発生するエレクトロケミカルマイグレーションの対策についても検討を続けています！
最終更新日：
2022-11-24 11:31:06.0
固体電解質に適した交流インピーダンス測定治具と測定システムの開発
2台のインピーダンスアナライザ、切替装置を一括制御できるインピーダンス測定システムを開発！
最終更新日：
2022-11-24 11:34:11.0
【課題事例】パワー半導体の故障部位が深い / 分析・故障解析
3つのカタログと動画も掲載。「パワー半導体の故障部位が深くて観察しづらい」といった問題に！故障原因の解析もお任せください。
最終更新日：
2022-11-24 13:51:36.0
EDS（エネルギー分散型Ｘ線分光法）による元素分析のご紹介
SEMでの高倍率観察中に試料の特定箇所をピンポイントで評価できるため、μmオーダーの微小領域分析が可能です。
最終更新日：
2022-11-24 14:43:57.0
超音波顕微鏡（原理と特長）のご紹介
超音波の性質を顕微鏡の観点から言えば、分解能の良い計測が可能なことを意味します。波の性質を利用して指向性を高めることも可能です。
最終更新日：
2022-11-25 10:05:38.0
EBSD（電子線後方散乱回折法）を利用した結晶解析とは
試料表面で生じる電子線後方散乱回析により金属など結晶性材料の結晶方位・粒径・歪み分布などに関する情報を取得することが出来ます。
最終更新日：
2022-11-25 10:06:35.0
【試験】高温での使用が予想される部品の高温せん断強度試験を実施
接合強度試験。チップ部品のはんだ強度や、ダイボンドチップの接合強度などを対象に評価します。350℃までの評価実績があります。
最終更新日：
2022-11-28 15:55:41.0
【塵埃試験（浮遊式）】JIS規格に準拠する自社開発設備です
塵埃環境が厳しい自動車のエンジンルームなど、活用環境に合わせた耐塵埃性を評価することを目的とした試験です。
最終更新日：
2022-12-20 14:02:36.0
高速動作、高感度、低ノイズを兼ね備えたEBSD検出器を設置
わずか数分の高速動作、高感度、低ノイズを兼ね備えたEBSD検出器を設置しております。
最終更新日：
2023-05-01 14:30:13.0
