すべての製品・サービス 一覧

［Slice&View］三次元SEM観察法

FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます

最終更新日： 2016-02-18 13:28:55.0

お問い合わせ/資料請求

［XAFS］X線吸収微細構造

XAFSは、物質にX線を照射することで得られる吸収スペクトルを解析する手法です

最終更新日： 2023-03-27 16:33:05.0

お問い合わせ/資料請求

［GDMS］グロー放電質量分析法

特定の質量イオンを解離・フラグメント化させ、質量分析計で検出

最終更新日： 2023-04-20 10:59:27.0

お問い合わせ/資料請求

［IC］イオンクロマトグラフ法

イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です

最終更新日： 2016-09-09 14:11:25.0

お問い合わせ/資料請求

ＰＶ（太陽電池）各種評価事例集

太陽電池（ＰＶ）の組成評価や同定・膜圧評価・形状評価・結晶構造評価などの事例集です。国際太陽電池展でも展示した内容です。

最終更新日： 2024-05-28 13:47:29.0

お問い合わせ/資料請求

研究開発を強力サポート　「受託分析サービス」

お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定までをお引き受けし、分析データをご提供。

最終更新日： 2024-05-28 13:47:29.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】IGZO 薄膜の結晶性・膜密度評価

酸化物半導体のXRD・XRR分析事例

最終更新日： 2016-08-25 09:47:04.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【有機EL解析に最適】TOF-SIMS新分析サービス開始

有機成分を壊さず深さ方向分析が可能になりました！ 従来より空間分解能も向上し、狭い領域でも評価いたします。

最終更新日： 2024-05-28 13:47:29.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】有機EL材料(OLED)のRGB素子深さ方向分析

雰囲気制御下でのGCIB（Arクラスター）を用いた有機EL層構造・劣化層の評価

最終更新日： 2023-04-20 17:42:26.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【クライオSEM分析】液体中微粒子の分散状態を評価

急冷凍＋SEM観察により、粒子が分散している様子を画像で確認！ ★第25回インターフェックスジャパンでデータ展示★

最終更新日： 2024-05-28 13:47:29.0

お問い合わせ/資料請求

［SIMS］二次イオン質量分析法

二次イオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行う手法です

最終更新日： 2016-02-18 13:54:19.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法

ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

最終更新日： 2016-08-24 11:12:17.0

お問い合わせ/資料請求

［XPS］X線光電子分光法

試料表面（数nm程度の深さ）の元素の種類、存在量、化学結合状態評価に有効

最終更新日： 2023-03-27 15:33:52.0

お問い合わせ/資料請求

［SEM］走査電子顕微鏡法

高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

最終更新日： 2016-02-18 13:13:10.0

お問い合わせ/資料請求

［AES］オージェ電子分光法

試料表面（数nm程度の深さ）の元素の種類・存在量の評価

最終更新日： 2016-09-12 09:48:32.0

お問い合わせ/資料請求