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［XRD］X線回折法

XRDは、回折パターンから試料の結晶構造情報を得る手法です。

最終更新日： 2023-03-27 16:47:49.0

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EBSD分析（電子後方散乱回折法）

容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

最終更新日： 2016-10-31 12:13:22.0

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［LC/MS］液体クロマトグラフィー質量分析法

イオンを検出器で検出し、定性・定量をおこなう分析手法です

最終更新日： 2016-08-24 14:17:43.0

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［AFM］原子間力顕微鏡法

ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測

最終更新日： 2016-10-21 14:43:48.0

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［FT-IR］フーリエ変換赤外分光法

数十μm角程度の領域の測定が可能

最終更新日： 2023-03-27 15:38:24.0

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［Raman］ラマン分光法

試料の分子構造や結晶構造に関する情報を得る

最終更新日： 2023-03-27 15:36:03.0

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EMS分析（エミッション顕微鏡法）

故障箇所を迅速に特定

最終更新日： 2023-04-14 11:35:39.0

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［GC/MS］ガスクロマトグラフィー質量分析法

有機化合物の定性・定量を行う分析手法です

最終更新日： 2016-09-12 10:23:16.0

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［XRR］X線反射率法

XRR：X-ray Reflectivity

最終更新日： 2023-03-27 16:06:08.0

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［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法

試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であることから、最表面の有機汚染の同定などに適した手法です

最終更新日： 2016-09-12 09:36:40.0

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［UPS］紫外光電子分光法

試料表面の組成の定性・定量や仕事関数評価に

最終更新日： 2016-02-18 13:49:39.0

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［SAXS］X線小角散乱法

・ナノスケールでの周期構造・配向性を評価可能

最終更新日： 2016-02-18 12:53:18.0

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［SCM］［SNDM］

キャリア分布を二次元的に可視化

最終更新日： 2019-03-20 10:34:17.0

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白色干渉計測法

非接触・非破壊で3次元測定可能

最終更新日： 2016-02-12 11:31:31.0

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分析訪問セミナー

分析のセミナーを無償にて行います！

最終更新日： 2024-05-28 13:47:29.0

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