すべての製品・サービス 一覧

［ICP-MS］誘導結合プラズマ質量分析法

導結合プラズマ（ICP）を励起源として用いた無機元素分析の手法です

最終更新日： 2023-03-07 17:02:53.0

お問い合わせ/資料請求

［TG-DTA/TG-DTA-MS］示差熱天秤-質量分析法

サンプルを加熱することによって生じる重量変化・示差熱・熱量および揮発成分の質量を測定

最終更新日： 2023-03-27 16:16:32.0

お問い合わせ/資料請求

［EBIC］電子線誘起電流

試料内部の電界構造（半導体の接合構造）に関する情報を得ることができる手法

最終更新日： 2016-02-18 13:30:58.0

お問い合わせ/資料請求

［SEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（SEM）

電子線照射により発生する特性X線を検出し、エネルギーで分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です

最終更新日： 2016-02-18 13:26:38.0

お問い合わせ/資料請求

［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法

電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定することによって、物質の構成元素や電子構造を分析

最終更新日： 2016-02-18 13:38:29.0

お問い合わせ/資料請求

［SIM］走査イオン顕微鏡法

高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能

最終更新日： 2016-02-18 13:42:34.0

お問い合わせ/資料請求

［SSRM］走査型広がり抵抗顕微鏡法

ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

最終更新日： 2023-04-14 11:47:27.0

お問い合わせ/資料請求

［FIB］集束イオンビーム加工

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走査させることにより特定領域を削ったり成膜することが可能です

最終更新日： 2018-07-20 17:00:20.0

お問い合わせ/資料請求

［SSDP用加工］基板側からの測定用加工

基板側からの測定ができるように基板を削って薄片化

最終更新日： 2016-02-18 11:11:12.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

［IP法］Arイオン研磨加工

IP法は、研磨法の一種でイオンビームを用いて加工する方法です

最終更新日： 2016-04-07 09:35:00.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

雰囲気制御下での処理

サンプル本来の状態を評価することが可能

最終更新日： 2016-02-18 10:46:03.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

クライオ加工

やわらかいサンプルを冷却、硬化させ切削可能に

最終更新日： 2019-03-20 11:46:07.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】トランジスタ（MOSFET）の拡散層分布評価

SCMによる特定箇所の拡散層評価

最終更新日： 2024-05-28 13:47:29.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】CIGS薄膜太陽電池の結晶粒と抵抗評価

同一箇所における抵抗分布と結晶粒・結晶粒界評価

最終更新日： 2024-05-28 13:47:29.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】CIGS薄膜太陽電池バッファ層界面の観察

超高分解能STEMによるZn(S, O, OH)/CIGS接合界面の結晶構造評価

最終更新日： 2016-02-12 11:43:09.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード