PV EXPO2013(国際太陽電池展)展示会にご来場いただけなかった方、MSTブースにお立ち寄りいただけなかった方、もう一度MSTの展示会資料をご覧になりたい方、ぜひご覧ください。
太陽電池の研究・開発・製造に必要な部品・材料、装置、セル・モジュールが一堂に出展する展示会『PV EXPO 2013』で使用したパネル資料全6枚のご紹介です。
[掲載内容]
有機薄膜太陽電池の活性層の組成分布評価や、電極直下のドーパントの濃度
分布を定量的に評価した事例、成膜したCIGS薄膜の組成について、ICP-MSで
高精度に定量した事例、CIGSとCdSがヘテロエピタキシャル接合している様子
などを、分析図・構造図・模式図などの各種データを掲載して、わかりやすく
ご紹介しております。
■その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
基本情報
【展示パネル 詳細】(一部抜粋)
○有機薄膜太陽電池の活性層の組成分布評価
→雰囲気制御下での前処理および深さ方向分析が可能
→測定法:TOF-SIMS・雰囲気制御下での処理
○結晶Si太陽電池の拡散層評価
→ドーパントの定量評価およびキャリアの分布評価
→測定法:SIMS・SCM・研磨・解体
○CIGS薄膜の組成分布分析
→薄膜の組成定量、面内分布、深さ方向分布の評価が可能
→測定法:SIMS・ICP-MS・XRF・エッチング
○CIGS薄膜太陽電池へテロ接合界面の観察
→超高分解能STEMによるCdS/CIGS接合界面高抵抗層の結晶構造評価
→測定法:TEM
○X線によるZn系バッファ層の複合評価
→組成・結合状態・構造・密度の評価が可能
→測定法:XPS・XRD・XRR・研磨
●その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
価格情報 | 詳細はお問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | 【用途】 ○組成評価 ○同定 ○組成分布評価 ○微量不純物濃度評価 ○形状評価 ○製品調査 ○膜厚評価 ○結晶構造評価 ○化学結合状態評価 ほか その他詳細は、お問い合わせください。 |
お問い合わせ
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一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 【測定法】質量分析法
- 【測定法】光電子分光法
- 【測定法】電子顕微鏡観察・分析
- 【測定法】振動分光
- 【測定法】X線回折関連
- 【測定法】SPM関連
- 【測定法】故障解析
- 【測定法】そのほかの測定法
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