［XRF］蛍光X線分析法

最終更新日: 2023-04-14 12:14:39.0

照射X線により発生する蛍光X線を検出し、エネルギーや分光結晶で分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です

蛍光X線分析（XRF： X‐ray Fluorescence）は照射X線により発生する蛍光X線を検出し、エネルギーや分光結晶で分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です。

・測定範囲の全エネルギー（Na～U）が同時に短時間で測定可能
・未知試料の分析に適している
・非破壊分析
・特殊な試料を除き、前処理不要、大気中での分析が手軽に行える
・ハンドヘルド型の装置で動かせない大型試料の元素分析が可能

関連リンク - https://www.mst.or.jp/method/tabid/168/Default.asp…

基本情報

XRFはX線照射により発生する蛍光X線をエネルギーや分光結晶で分光し検出します。蛍光X線のエネルギーは元素固有なので、試料を構成する元素の同定が行えます。また、強度から組成に関する情報が得られます。

価格情報	測定対象によって価格が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。
納期	お問い合わせください
用途／実績例	・金属材料の組成評価・セラミックスの元素分布の可視化・樹脂中の異物の元素分析・透過X線像の取得・部品のめっき膜厚の測定・ウェハ上金属膜の膜厚分布評価・残渣の成分特定・液体の元素分析・SUS材料の型番調査

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