最終更新日:
2023-04-14 12:14:39.0
照射X線により発生する蛍光X線を検出し、エネルギーや分光結晶で分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です
蛍光X線分析(XRF: X‐ray Fluorescence)は照射X線により発生する蛍光X線を検出し、エネルギーや分光結晶で分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です。
・測定範囲の全エネルギー(Na~U)が同時に短時間で測定可能
・未知試料の分析に適している
・非破壊分析
・特殊な試料を除き、前処理不要、大気中での分析が手軽に行える
・ハンドヘルド型の装置で動かせない大型試料の元素分析が可能
基本情報
XRFはX線照射により発生する蛍光X線をエネルギーや分光結晶で分光し検出します。蛍光X線のエネルギーは元素固有なので、試料を構成する元素の同定が行えます。また、強度から組成に関する情報が得られます。
価格情報 | 測定対象によって価格が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。 |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | ・金属材料の組成評価 ・セラミックスの元素分布の可視化 ・樹脂中の異物の元素分析 ・透過X線像の取得 ・部品のめっき膜厚の測定 ・ウェハ上金属膜の膜厚分布評価 ・残渣の成分特定 ・液体の元素分析 ・SUS材料の型番調査 |
詳細情報
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