一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

【分析事例】IGZO膜の局所結晶構造解析

最終更新日: 2016-10-31 11:52:18.0
電子回折で結晶性・配向性を連続的に評価

IGZO膜はディスプレイ用TFT材料として研究開発が進んでいる材料です。
薄膜中の結晶構造の有無はTFT特性や信頼性に影響する可能性があり、デバイス中における局所的な結晶評価が必要になります。
TEMの電子回折測定を用いてIGZO膜中の結晶構造を連続的に評価した事例をご紹介します。

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用途/実績例 酸化物半導体の分析です

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