最終更新日:
2016-03-15 13:23:03.0
下地・基板の影響なく異物の成分を同定します
異物分析について、従来は下地の影響により顕微FT-IR分析やラマン分析では解析が困難でしたが、マイクロサンプリングツールの導入により、その影響を低減することが可能となりました。
2種の異物に関する解析例をご紹介します。
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