一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

【分析事例】軟X線発光分光によるGaNの評価

最終更新日: 2018-02-22 16:26:42.0
価電子帯・ギャップ内準位について元素別の情報が得られます

放射光を用いた軟X線発光分光(SXES)は材料を構成する各元素について、フェルミ準位近傍の部分状態密度(pDOS)を直接的に得られるため、材料の電子状態を評価する手法として幅広く用いられています。さらに本手法の特長として、1.バルクの情報が得られる 2.絶縁物に対しても帯電の影響を受けず評価可能 3.検出下限が低い(<1atomic%)などが挙げられ、特に軽元素(B,C,N,O等)を含んだ材料の評価に有効です。本資料では測定例としてGaN基板のSXESスペクトルをご紹介します。

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用途/実績例 照明・酸化物半導体・LSI・メモリの分析です

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