一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

【分析事例】トランジスタ内部の状態評価

最終更新日: 2019-04-25 16:18:52.0
デバイス内部の異常を非破壊で評価します

外観検査では分からないデバイス等の故障原因を調査するために、X線CTをはじめとする非破壊による評価が必要となる場合があります。
X線CTを用いて不具合のあったトランジスタを測定し、内部の状態を確認しました。
その結果、ワイヤーの断線が確認された他、断線時の熱などの影響で断線したワイヤーの周囲のモールド樹脂が変性していることも分かりました。

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用途/実績例 電子部品の分析です

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