最終更新日:
2023-06-23 12:09:06.0
X-ray Computed Tomography
試料にX線を照射することで、試料内部構造の二次元透過像を取得します。また、試料を回転させた連続撮影データから、X線CT(Computed Tomography)像を構築します。
・非破壊で、試料の内部構造や欠陥形状などの確認が可能。
・3D像や任意箇所での断面像を構築可能。
・X線エネルギーは30 kV~160 kVの間で設定できるため、有機材料から電子部品まで幅広く対応可能。
・専用ステージにより、引張/圧縮や冷却/加温した状態で試料のX線CT測定が可能。
この資料では、適用例や原理、データ例などを紹介しています。
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