![パワーサイクル受託試験のご案内 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/2cd/2000605224/IPROS44886860537457835029.png?w=100&h=100)
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自動車の紹介です。
![パワーサイクル受託試験のご案内 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/2cd/2000605224/IPROS44886860537457835029.png?w=100&h=100)
![株式会社クオルテック 総合カタログ(ダイジェスト版) 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/bb4/367794004/IPROS_14426440530853757000.jpg?w=100&h=100)
![BCAの断面解析とX線透過観察 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/d66/367794002/IPROS_17640695429072431000.jpg?w=100&h=100)
![ハイパワーX線CT『CT Compact』 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/eea/2000605195/IPROS54694178453185525037.png?w=100&h=100)
![カスタムメイドパワーサイクル試験機 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/1a2/2000552127/IPROS24282224200531283675.png?w=100&h=100)
![【便覧のプレゼント】クオルテック技術便覧 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/e01/2000592228/IPROS67899873623112652927.jpeg?w=100&h=100)
![【問題発生事例】信頼性試験におけるはんだクラック発生 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/504/2000743261/IPROS63478235898972918915.png?w=100&h=100)
![【課題事例】パワー半導体の故障部位が深い / 分析・故障解析 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/50e/2000743253/IPROS12191718857870921365.png?w=100&h=100)
【課題事例】パワー半導体の故障部位が深い / 分析・故障解析
3つのカタログと動画も掲載。「パワー半導体の故障部位が深くて観察しづらい」といった問題に!故障原因の解析もお任せください。
最終更新日:
2022-11-24 13:51:36.0
![フラットミリングとSEM観察 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/e30/367794003/IPROS08067351438871669464.jpeg?w=100&h=100)
![EDS(エネルギー分散型X線分光法)による元素分析のご紹介 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/ba1/2000750198/IPROS77256685264928369055.png?w=100&h=100)
EDS(エネルギー分散型X線分光法)による元素分析のご紹介
SEMでの高倍率観察中に試料の特定箇所をピンポイントで評価できるため、μmオーダーの微小領域分析が可能です。
最終更新日:
2022-11-24 14:43:57.0
![断面研磨 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/294/2000750819/IPROS25646233759044003206.png?w=100&h=100)
![超音波顕微鏡(原理と特長)のご紹介 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/1b2/2000756370/IPROS53314107313100052806.png?w=100&h=100)
超音波顕微鏡(原理と特長)のご紹介
超音波の性質を顕微鏡の観点から言えば、分解能の良い計測が可能なことを意味します。波の性質を利用して指向性を高めることも可能です。
最終更新日:
2022-11-25 10:05:38.0
![EBSD(電子線後方散乱回折法)を利用した結晶解析とは 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/094/2000761996/IPROS91845913329133979833.png?w=100&h=100)
EBSD(電子線後方散乱回折法)を利用した結晶解析とは
試料表面で生じる電子線後方散乱回析により金属など結晶性材料の結晶方位・粒径・歪み分布などに関する情報を取得することが出来ます。
最終更新日:
2022-11-25 10:06:35.0
![【試験】高温での使用が予想される部品の高温せん断強度試験を実施 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/749/2000769093/IPROS93690883555844102198.png?w=100&h=100)
【試験】高温での使用が予想される部品の高温せん断強度試験を実施
接合強度試験。チップ部品のはんだ強度や、ダイボンドチップの接合強度などを対象に評価します。350℃までの評価実績があります。
最終更新日:
2022-11-28 15:55:41.0
![【塵埃試験(浮遊式)】JIS規格に準拠する自社開発設備です 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/054/2000779035/IPROS23472643601239964860.png?w=100&h=100)
【塵埃試験(浮遊式)】JIS規格に準拠する自社開発設備です
塵埃環境が厳しい自動車のエンジンルームなど、活用環境に合わせた耐塵埃性を評価することを目的とした試験です。
最終更新日:
2022-12-20 14:02:36.0
![振動試験(複合タイプ) 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/bf2/2000799989/IPROS98763827657655103411.png?w=100&h=100)
![パワーサイクル試験(パワーモジュールの信頼性評価) 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/411/2000808496/IPROS55664184284567788433.png?w=100&h=100)
![パワーサイクル試験:空冷システム 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/42d/2000810259/IPROS82285566175599304126.png?w=100&h=100)
![パルス通電パワーサイクル試験とその応用例 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/3d2/2000814306/IPROS20753826971838049301.png?w=100&h=100)
![疲労試験 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/4c7/2000818462/IPROS20461218175522198743.png?w=100&h=100)
![XPS・AES複合機 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/aef/2000822229/IPROS80629465318716830509.png?w=100&h=100)
![【故障解析事例】静電気破壊の再現実験 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/d82/2000827304/IPROS29672681713511375015.png?w=100&h=100)
![非破壊解析技術 C-SAM(2D~3D) 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/4c8/2000837773/IPROS72154336132494295898.png?w=100&h=100)
![高速動作、高感度、低ノイズを兼ね備えたEBSD検出器を設置 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/22e/2000843996/IPROS15403789219958235355.jpeg?w=100&h=100)
高速動作、高感度、低ノイズを兼ね備えたEBSD検出器を設置
わずか数分の高速動作、高感度、低ノイズを兼ね備えたEBSD検出器を設置しております。
最終更新日:
2023-05-01 14:30:13.0
![ボンディング性評価のためのシリコンエッチング技術 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/13b/2000856416/IPROS27319504400811047596.jpeg?w=100&h=100)
![塩水噴霧試験 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/153/2000865575/IPROS06818428146522630120.png?w=100&h=100)
![環境試験から車載ネットワーク評価までの一貫提案 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/cfd/2000874403/IPROS17521373442036616052.png?w=100&h=100)
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![プラズマFIB-SEMの加工~分析性能と実例~ 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/504/2000884644/IPROS12276616366820015059.png?w=100&h=100)
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