最終更新日:
2021-10-18 15:18:23.0
様々な電子部品の検査をサポート！TOTAL TEST SOLUTIONの精研！
電気検査に使用するコンタクトプローブ、
半導体ウエハ検査用プローブカード・ICソケットを取り扱う
株式会社精研の半導体検査機器のご紹介です。
標準品から特殊仕様品にも対応した「コンタクトプローブ」をはじめ、
用途に合わせたハウジング材料での構成が可能な「ICソケット」、
微細加工技術による狭ピッチをはじめ、様々な検査条件に対応した「プローブカード」をラインアップしています。
検査条件の例
・狭ピッチに対応（MIN P=80μ）
・大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査)
・非磁性検査（磁性を持たない材質で製作するプローブ）
長年培ってきた技術を活かし、より効率的な検査環境を提供すること、
より細かいご要望に応えられるよう、開発を続けております。
製品概要を資料にてご紹介をしております。
【掲載内容】
■はじめに
■製品・技術のご紹介（コンタクトプローブ）
・新製品技術のご紹介
■技術紹介（ICソケット、プローブカード）
■その他各種製品・サービス（精密加工他）
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【掲載製品】
■コンタクトプローブ
新技術のご紹介
・プローブ1本あたりの許容電流を倍に。大電流検査に優れたCNT技術
・交換の手間を削減。耐久性に優れたレアメタルプローブ
・内部構造を見直し。安定した抵抗値測定向け新型バイアスプローブ
■ICソケット
・非磁性対応ソケット
・高耐熱対応ソケット
■プローブカード
・min80μピッチ対応プローブカード
・大電流負荷試験プローブカード
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格情報 | - |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【コンタクトプローブ】 電気検査装置ヘッド部 コネクタ 基板ファンクション検査 液晶パネル点灯検査 電池充放電検査 【プローブカード】 半導体前工程検査 【ICソケット】 半導体後工程検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
お問い合わせ
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