当社では、半導体の検査に使用する『コンタクトプローブ・
ICソケット・プローブカード』を設計・製作しています。
☆コンタクトプローブ☆
標準品はもちろん、検査条件に合わせた特殊仕様にも柔軟に対応。
☆プローブカード・ICソケット☆
樹脂の加工・組み立てなどに一貫対応できるため、
検査対象にあった検査治具を低コストでご提供可能です。
【対応例】
◎狭ピッチ対応(MIN P=80μで製作)
◎大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査用に製作)
◎非磁性検査(磁性を持たない材質でプローブ製作)
◎その他:高周波(10GHz)、高耐熱(300℃以下)など
【製品例】
<コンタクトプローブ>
・交換の手間を削減。耐久性に優れた「レアメタルプローブ」
・内部構造を見直し。安定した抵抗値測定向け「新型バイアスプローブ」
<ICソケット>
・非磁性対応ソケット
・高耐熱対応ソケット
<プローブカード>
・min80μピッチ対応プローブカード
・大電流負荷試験プローブカード
※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
基本情報
長年培ってきた技術を活かし、より効率的な検査環境をご提供できるよう
また、より細かいご要望に応えられるよう、開発を続けております。
※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
価格情報 | - |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | 【コンタクトプローブ】 電気検査装置ヘッド部 コネクタ 基板ファンクション検査 液晶パネル点灯検査 電池充放電検査 【プローブカード】 半導体前工程検査 【ICソケット】 半導体後工程検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
お問い合わせ
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